2008年度第2回（通算第10回）粒子帯電制御グループ会
「粒子の静電特性評価」
■協賛：化学工学会粉体プロセス分科会
■日時：2008年 11月14日（金）13:10～17:０0
■場所：同志社大学/東京オフィース
〒100－0004 東京都千代田区大手町2丁目6番2号 日本ビルヂング5階566区
TEL 03-3516-7577
地図 http://www.doshisha.ac.jp/information/facility/tokyo_o/
■交通：JR「東京」駅八重洲北口又は新幹線日本橋口から徒歩5分 （上のリンク参照）
■参加費：2000円（当日会場にて，ただし，大学および公立研究機関は1000円）
■講演会1. 13:10－14:00: 「大気中光電子分光法を用いた表面電子状態の測定」
（理研計器 研究部） 中島 嘉之氏2. 14:00－14:50: 「粉体の接触電位差の測定と微粒子の帯電現象」
（京都大学工学研究科 助教） 丸山 博之氏3. 15:10－16:00: 「熱刺激電流測定による帯電特性の評価」
（㈱ リガク 応技センター グループマネージャー） 平山 泰生氏4. 16:00－16:35: 「高分子粉体の熱刺激電流スペクトルに与える試料熱変形の影響とその修正」
（慶應義塾大学 名誉教授） 池崎 和男氏5. 16:35－16:50: 総合討論
6. 17:00－19:00: 懇親会（予定）
【講演概要】
1. 「大気中光電子分光法を用いた表面電子状態の測定」
大気中光電子分光法の概要を，帯電に関する研究例を交えて紹介する。 帯電現象は，仕事関数などの物質表面の電子状態と密接な関係がある。 通常，その測定が困難である粉や高分子材料の電子状態も， 本法を用いて比較的容易に測定できる。 絶縁物の光電子放出特性と帯電列との関係や，トナー研究への応用例を紹介する。2. 「粉体の接触電位差の測定と微粒子の帯電現象」
金属同士の帯電と同様に金属-絶縁体，絶縁体同士の帯電現象もフェルミ準位の高い方から低い方へ， フェルミ準位が一致するまで電子が移動するため帯電すると考えられている。 最大帯電量とともに粉体の帯電特性を表現するものとして接触電位差は重要であると考えられる。 KelvinZisman法を用いた粉体の接触電位差測定装置の概要， および接触電位差と微粒子の帯電現象に関する研究例を紹介する。3. 「熱刺激電流測定による帯電特性の評価」
試料中の電荷や電気双極子の振る舞いを観測することのできる熱刺激電流(TSC)測定法を用いて， 高分子粉体材料（トナー）や高分子塗膜（コンデンサーマイクロホン）などの帯電特性評価の応用例紹介を行う。 また高分子ブレンドフィルムの応用例も紹介する。4. 「高分子粉体の熱刺激電流スペクトルに与える試料熱変形の影響とその修正」
高分子粉体の熱刺激電流（TSC）スペクトルは，昇温にともなう試料熱変形の影響を受ける。 この影響を排除して正しいTSCスペクトルを得る手法の導出と，この手法を市販の静電粉体塗装用塗料や粒径の異なるトナー用バインダー樹脂粉体に適用した結果について述べる。
■代表：松坂修二，副代表：松山達
■幹事： 白川善幸，綿野哲
■参加の申し込み（連絡先）：松坂 e-mail: matsu@cheme.kyoto-u.ac.jp
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通算第10回粒子帯電制御研究会申し込み
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